2013년 11월 20일 수요일

신소재실험 X선 회절 분석법의 원리 및 활용의 이해

신소재실험 X선 회절 분석법의 원리 및 활용의 이해
[신소재실험] X선 회절 분석법의 원리 및 활용의 이해.ppt


목차
1. 실험목적

2. 분석방법

3. 결론

4. 참고문헌

본문
분석방법 : 정성분석

정성분석(원소의 종류) - Hanawalt method

3개의 강한 회절선을 선택하여
각도와 세기 확인

nλ=2dsinθ에 따라
면간격(d)을 구해낸다.

면간격, 상대강도 정보를 가지고
JCPDS card와 비교하여
미지시료를 분석한다.

미지시료를 경우의 수를
따져가며 찾아낸다.

.
.
분석방법 : 결론

총 3가지 시료가 섞여있다는 미지시료에는 정성분석을 통해 ZnO가 들어있다는 것을 알수 있었다.

우리조는 다른 조보다 Peak의 값이 작아 나머지 시료가 정확히 무엇인지 알 수 없었다.

ZnO의 결정구조는 a=3.242 , c=5.203 인 Hexagonal임을 알 수 있었다.

ZnO의 Particle Size는이다







본문내용

각도와 세기 확인
nλ=2dsinθ에 따라
면간격(d)을 구해낸다.
면간격, 상대강도 정보를 가지고
JCPDS card와 비교하여
미지시료를 분석한다.
미지시료를 경우의 수를
따져가며 찾아낸다.
분석결과의 예
JCPDS카드의 예

분석방법 : 정성분석
시편의 내각전자와 입사전자가 반응하여 내각전자를 방출시키고 이온화되나 1ps 내에 그 빈 자리를 외각전자가 천이하여 채우면서 그 차만큼의 에너지를 가지는 특성 X선 발생
이 특성 X선을 필터링 하여 사용
*

분석방법 : 높은 강도의 Peak 분석
시편의 내각전자와 입사전자가 반응하여 내각전자를 방출시키고 이온화되나 1ps 내에 그 빈 자리를 외각전자가 천이하여 채우면서 그 차만큼의 에너지를 가지는 특성 X선 발생
이 특성 X선을 필
 

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